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CHY-01高精度测厚仪采用机械接触式测量方式，严格执行机械接触式测厚相关标准要求，专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。本品采用高精度的位移传感器，通过科学的结构设计及高精测控控制技术，实现了接触式厚度测试的稳定性、重复性。
一、功能应用
1、基础应用：薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料（如尿不湿、卫生巾片材）等
2、扩展应用：量程扩展至6-12mm以及曲面测量头，满足特殊场合的厚度测试（需订制）
二、试验原理
本品不同于超声波，电涡流等原理，采用机械接触式厚度测量方式进行厚度的高精度测量；首对将厚度测量头复位后置零（测厚头与测厚仪测试台接触归零），启动试验，测厚头达到最高位，将平整试样置于测厚仪测试平台上，测量头下落后接触试样，对试样施压标准规定的压力后通过位移传感器记录材料厚度。
三、产品特征
CHY-01高精度测厚仪是一款专业用于机械式厚度测量的高精密仪器，采用高精度位移传感器，采用稳固性结构设计及高精测控控制技术，实现了接触式厚度测量的稳定性、重复性。
分辨率 ：0.1 μm
测试压力： 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张） （选其一，非标可订制）
接触面积 ：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）（选其一，非标可订制）
电源： AC 220V 50Hz
外形尺寸： 350 mm(L)× 340 mm(W)× 470 mm(H)
净重： 30 kg
五、参考标准
该仪器参考多项国家、国际标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817、GB/T 24218.2
注：不同标准需要订制不同夹具或试验程序开展相关试验。
选购件：计算机、非标订制。
一、功能应用
1、基础应用：薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料（如尿不湿、卫生巾片材）等
2、扩展应用：量程扩展至6-12mm以及曲面测量头，满足特殊场合的厚度测试（需订制）
二、试验原理
本品不同于超声波，电涡流等原理，采用机械接触式厚度测量方式进行厚度的高精度测量；首对将厚度测量头复位后置零（测厚头与测厚仪测试台接触归零），启动试验，测厚头达到最高位，将平整试样置于测厚仪测试平台上，测量头下落后接触试样，对试样施压标准规定的压力后通过位移传感器记录材料厚度。
三、产品特征
CHY-01高精度测厚仪是一款专业用于机械式厚度测量的高精密仪器，采用高精度位移传感器，采用稳固性结构设计及高精测控控制技术，实现了接触式厚度测量的稳定性、重复性。
- 5寸触控屏，专业测控软件支持
- 采用高精度差动电感式位移传感器，实现0.1um分辨率与测试的稳定性
- 支持多级用户权限管理，测试数据历史记录可查询
- 最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
四、技术参数
测试范围 ：0～2 mm（常规）（其它行程可订制）分辨率 ：0.1 μm
测试压力： 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张） （选其一，非标可订制）
接触面积 ：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）（选其一，非标可订制）
电源： AC 220V 50Hz
外形尺寸： 350 mm(L)× 340 mm(W)× 470 mm(H)
净重： 30 kg
五、参考标准
该仪器参考多项国家、国际标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817、GB/T 24218.2
注：不同标准需要订制不同夹具或试验程序开展相关试验。
六、配置
标准配置：主机、标准量块一件、专业软件、通信电缆选购件：计算机、非标订制。